La microscopía electrónica utiliza un haz de electrones para crear imágenes de alta resolución de un espécimen de destino. Considerando que los microscopios de luz están restringidos en su ampliación por la longitud de onda de los fotones , los microscopios electrónicos están limitados por la longitud de onda mucho menor de electrones , logrando así magnificación hasta casi 0,05 nanómetros . Hay cuatro tipos principales de microscopios electrónicos, todo lo cual puede ser más o menos delimitados por el tipo de energía reflejada graban de la muestra . Historia

La primera microscopio electrónico , un microscopio electrónico de transmisión , fue construido por los ingenieros alemanes Max Knoll y Ernst Ruska en 1931 . Aunque el prototipo original logró un aumento menor que el de los microscopios de luz actuales , Knoll y Ruska probó con éxito el diseño era posible, y dos años más tarde superó el microscopio de luz en energía de la ampliación . Todas las iteraciones posteriores del microscopio electrónico se basan en este prototipo original .
Microscopio electrónico de transmisión (TEM )

microscopios electrónicos de transmisión producen imágenes mediante el registro del haz de electrones después de que ha pasado a través de una rebanada delgada de la muestra . La muestra se coloca en una rejilla de alambre de cobre y se sometió a un haz de electrones , normalmente generada mediante la ejecución de alta tensión a través de un filamento de tungsteno . El haz de electrones se desplaza a través de una lente condensadora , golpea la muestra y continúa a través de las lentes del objetivo y proyectivas , antes de ser recogido en una pantalla de fósforo . Al igual que con todas las formas de microscopía electrónica , la muestra de destino deben ser deshidratado y aislados en un vacío para evitar la contaminación de vapor de agua , que puede causar la dispersión de electrones no deseada . TEM producen el máximo aumento de todos los microscopios electrónicos .
Microscopio electrónico de barrido (SEM )

microscopios electrónicos de barrido , junto con microscopios electrónicos de transmisión, son los más ampliamente utilizado . A diferencia de los TEM , microscopios electrónicos de barrido producen imágenes mediante la recopilación de los electrones secundarios o inelásticamente dispersos que rebotan en la superficie de una muestra . El haz de electrones primaria viaja a través de varias lentes condensadoras , bobinas de exploración y una lente de objetivo antes de golpear la superficie de la muestra . El haz de electrones se dispersa al chocar contra la muestra y un detector de electrones secundarios recoge los electrones dispersados ​​. Los datos electrón es entonces escanea trama para producir imágenes de la superficie con gran profundidad de campo .
Reflexión Microscopio Electrónico (REM )

microscopios electrónicos Reflexión operar muy similar al SEM en términos de estructura . REM , sin embargo , recogen los electrones retrodispersados ​​elásticamente o dispersos tras el haz primario de electrones incide sobre la superficie de la muestra. Microscopios electrónicos de reflexión se acoplan con más frecuencia con baja energía de microscopía electrónica de espín polarizado a la imagen del dominio firma magnética de superficies de las muestras en la construcción de circuitos de ordenador.
Escaneo microscopio electrónico de transmisión (STEM )

microscopios electrónicos de transmisión de escaneo

, como TEM tradicionales , pasan a un haz de electrones a través de una fina loncha de muestra. En lugar de enfocar el haz de electrones después de pasar a través de la muestra , un STEM enfoca el haz de antemano y construye la imagen a través de exploración de trama . Microscopios electrónicos de transmisión de escaneo son muy adecuadas para las técnicas de cartografía analítica como la espectroscopia de pérdida de energía de electrones y anular la microscopía de campo oscuro .